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硅片厚度测试仪 SIT-200
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硅片厚度测量仪SIT-200
硅片厚度测量仪SIT-200硅片厚度测量仪(SIT-200)由精确可调激光光源,聚焦传感器,光学接收器组成。波长扫描光聚焦照射到目标上,由目标表面和背面反射光干涉形成干涉图案,经过聚焦传感器后由光学
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硅晶圆检测仪SIT-200
SIT-200 硅晶圆检测仪是Alnair Labs 公司采用高速扫频激光器,利用干涉计量的方法设计制造的用于硅晶圆厚度检测的干涉仪。与常规测厚采用宽带光源不同,可调谐激光器具备很高的功率谱
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厚度测试仪
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厚度测试仪
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塑料膜/硅片厚度测试仪
。适用于薄膜厚度、位移、位置及尺寸的精确测量。LE 系列是大部分测量应用的理想仪器。 LE系列是zei热销的产品,因为它的精确度高及低压能力均十分出众。主要客户是塑料薄膜生产商及硅片生产商。
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F54-XY-200薄膜厚度测量仪
F54-XY-200 薄膜厚度测量仪自动薄膜厚度测绘系统借助F54-XY-200先进的光谱反射系统,可以快速轻松地测量大200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提
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太阳能硅片厚度仪
太阳能硅片厚度仪采用机械接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测量头自动降落于试样之上,在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。该设备满足多项国家和国际标准:ISO 4593、ISO 534
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奥谱天成OPTOSKY SM200 光学薄膜厚度测量仪
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赛默飞 厚度直接测量仪
Thermo Scientific ™ ShadowMaster 测厚仪对各种材料提供准确、可靠的厚度测量,极大地改善生产过程的控制、改进质量和提高生产率。此测厚仪具有安装快、使用成本低、投资
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